Note 7 Pressekonferenz zum Fehler

Die Pressekonferenz zeigt den ganzen Vorgang bis zur Rücknahme des Gerätes auf.

Nach der ersten Rücknahme sei alles in Sachen Software sowie Hardware analysiert worden, aber nichts wurde gefunden. Dies trug damals bei, dass nur die Akkus getauscht wurden und dabei nichts grosses in Verdacht war.

Eine Schlussendliche Analyse des Akkus zeigt, dass zwischen 2 Schichten die den Akku schützen, Kupfer gefunden wurde, sowie einrisse in der Isolierung dass den ganzen Fehler verursacht hat. Teilweise wurde auch die Isolierung vergessen.
Die Tests hat TÜV Rheinland durchgeführt.

Über 700 Developers, 200000Geräte, sowie 30000 Akkus waren im Test involviert.

Der Test schaut so aus.

Analyse fehlerhafter Geräte aus verschiedenen Werksstätten, mit Zellenfehler, die zu aufblähungen führten, oder explodierten Geräten. Natürlich auch wie ein Fehler entstanden sein könnte, durch Hitze usw.

Es wurden dabei neue wie auch alte Akkus auf Fehler getestet.

Anhang 183423Anhang 183424Anhang 183425Anhang 183426Anhang 183427Anhang 183454Anhang 183455Anhang 183456Anhang 183457Anhang 183458

Nun am Ende des Note 7, sei man sehr darauf fokussiert, mit weiteren Schritten und Arbeitsgängen die Produktion und Sicherheit weiter zu verbessern.
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Samsung hat nun selbst erkannt, dass die Sicherheitskontrolle ein wenig zu kurz kam und hofft, dass dies nie wieder passieren wird.
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In dem Sinne, wird mit Knox zuviel in der Softwarekontrolle gemacht, aber zuwenig in der Hardwarekontrolle.